OTSUKA大塚显微分光膜厚仪OPTM-A2；
非接触/非破坏/显微方式，测量时间 1秒！
对各种薄膜、圆片，光学材料等来测定树脂膜的厚度和多层膜厚。测量时间是一秒/ point的高速测量，其搭载的解析软件就算是次使用的人都可以轻松解析光学常数。
特点：
◆膜厚测量中必要的功能集中于头部。
◆通过显微分光高精度测量反射率 (多层膜厚、光学常数 )。
◆1点只需不到1秒的高速tact。
◆实现了显微下广测量波长范围的光学系（紫外—近红外）。
◆通过区域传感器控制的安全构造。
◆搭载可私人定制测量顺序的强大功能。
◆即便是没有经验的人也可轻松解析光学常数。
◆各种私人定制对应（固定平台、有嵌入式测试头式样）。
规格：
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OPTM-A1
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OPTM-A2
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OPTM-A3
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波长范围
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230—800nm
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360—1100nm
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900—1600nm
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膜厚范围
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1nm ~ 35 um
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7nm~ 49 um
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16nm ~ 92um
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产品尺寸
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200(H)×200(D)×17(W)mm
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聚焦光斑
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Ф10um（反射率20倍）其他
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测量时间
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1秒/point
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尺寸
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本体555(W)×537(D)×559(H)mm，控制器500(W)×180(D)×288(H)mm
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电源规格
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750VA
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