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产品名称:OP-A3显微分光膜厚仪
产品型号: OP-A3
生产厂商:SANKO山高
产品数量:不限
产品单价:电议



OTSUKA大塚显微分光膜厚仪OP-A3;

非接触/非破坏/显微方式,测量时间 1秒!

测量目标膜的反射率,实现高精度膜厚和光学常数测试!(分光干涉法)


特点:

◆膜厚测量中必要的功能集中于头部。

通过显微分光高精度测量反射率 (多层膜厚、光学常数 )

◆1点只需不到1秒的高速tact

实现了显微下广测量波长范围的光学系(紫外—近红外)。

◆通过区域传感器控制的安全构造。

◆搭载可私人定制测量顺序的强大功能。

◆即便是没有经验的人也可轻松解析光学常数。

◆各种私人定制对应(固定平台、有嵌入式测试头式样)。





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