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产品名称:SWT-7200III膜厚计SANKO山高
产品型号:SWT-7200III
生产厂商:SANKO山高
产品数量:不限
产品单价:电议

SWT-7200III膜厚计SANKO山高

SWT系列探头可互换。 

 ◆ 两用型 : FN-325  

 ◆ 铁材用 : Fe 系列   

 ◆ 非铁材 : NFe 系列

电磁式/涡电流式膜厚计

SWT-7000Ⅲ/7100Ⅲ   探头可互换。简易测量。

可根据用途来选择探头。

轻巧简便。

在LCD画面上显示操作的顺序指引。

4个按键,操作简单。

可连接电脑进行数据的传送。(7100Ⅲ)

用    途

涂层/衬层/镀金

耐酸层等绝缘性皮膜

规    格

测量范围      连接探头不同而不同(另卖)

显示方式       LCD画面

检量线校正     2点校正式

检量线存储     铁·非铁各一根

数据传送       USB(7100Ⅲ)

电    源       单3电池(1.5V)×2

电源线(7100Ⅲ)

附带自动关机功能

使用温度       0~40C°(不结露)

尺寸重量       72(W)×30(H)×156(D)mm

约210g


附 属 品      收纳袋

7100Ⅲ:电源线

USB连接线、USB软件

探    头      根据测量金属底材来选择。

·铁底材用(Fe)

·非铁底材用(NFe)

·铁底材·非铁底材两用(FN-325)

(请参照探头页)



探测头型号

FN-325

测量方式

电磁式·涡电流式两用(铁·非铁底材自动识别)

测量范围

铁底材:03.00mm、非铁底材:02.50mm

表示分辨率

1μm0999μm的切换(铁·非铁共通)

0.1μm0400μm(铁·非铁共通)

0.5μm400500μm(铁·非铁共通)

0.01mm:1.003.00mm(铁底材)

0.01mm:1.002.50mm(非铁底材)

测量精度

(平滑表面)

0100μm:1μm(铁·非铁共通)

或者是指示值的±2%以内

101μm3.00mm:±2%以内(铁底材)

101μm2.50mm:±2%以内(非铁底材)

探测部

1点定压接触式、V形切口、φ13×52mm72g

选择产品

V形探测头套有3种(φ5以下用、φ510用、φ1020用)

附属品

标准校正板、试验用零校正板、(铁用·非铁用)

测量对象

铁底材:铁·钢等磁性金属底材上的皮膜、衬层、喷涂膜、

电镀(电解镍除外)等

非铁底材:铝、铜等非磁性金属底材上的绝缘皮膜等

一般较普遍的测量物用


SWT-7000Ⅲ系列机型

机型

SWT-7000

SWT-7100

SWT-7200

测量范围

连接的探测头不同测量范围也不同。

显示方式

液晶显示LCD(数据·提示信息)、背光灯

检量线校正

2点校正方式(零校正、标准校正)

检量线存储

铁、非铁各1

10

测量值存储

20,000

数据传送

USB

USB

统计功能

内藏

附加功能

背光灯   测量模式的切换(普通/连续)   检量线、校正值的删除

自动关机功能(约3分以上不操作时,机器会自动关机) 分辨率的切换  

上下限值的设定(SWT-7200

电源

3电池 ×2

3电池 ×2 电源线

使用温度

040C°(不结露)

机体尺寸·重量

72W×30H×156Dmm 重量 210g

附属品

干电池、收纳袋子

干电池、收纳袋子、电源线、USB线、USB软件(CD

追加产品

铁材金属用探测头(Fe)、非铁材金属用探测头(NFe

·非铁材用探测头(FN-325


SWT-7000Ⅲ系列的铁材金属用探测头1)(Fe

型号

Fe-2.5/2.5L

Fe-2.5LwA

Fe-0.6Pem

测量方式

电磁感应式

测量范围

02.50mm

0600μm

表示分解率

1μm0999μm

切换

0.1μm0400μm

0.5μm400500μm

0.01mm:1.002.50mm

1μm0600μm

切换

0.1μm0400μm

0.5μm400500μm

测量精度

(平滑面)

0100μm:±1μm

又或者时显示值的±2%以内

101μm2.50mm±2%

0100μm:±1μm

又或者时显示值的±2%以内

101μm600μm±2%

探测部

1点定压接触式

V形口套头

2.5φ13×48mm

2.5L:18×23×67mm

1点定压接触式

测量部:约20×57mm

全长:约550 1.550mm

(伸缩式)

1点定压接触式

Φ5.6×94mm

选择产品

V形套头/—

φ5以下用、φ510用、φ1020用)

附属品

标准校正片

试验用零校正板

(铁用)

标准校正片

试验用零校正板(铁用)

收纳袋子

标准校正片

试验用零校正板

(铁用)

测量对象

·钢等的磁性金属底材上的皮膜、衬层、喷涂层、电镀层(电解镍的电镀层除外)等等

·钢等的磁性金属底材是哪个的皮膜、衬层等等手不能进去、高的地方、有距离的地方的涂层厚度的测量。

·钢等磁性金属底材上的涂层、衬层等狭小的地方、小的部位的涂层的膜厚测量。


SWT-7000Ⅲ系列的铁材金属用探测头2)(Fe

型号

Fe-10

Fe-20

测量方式

电磁感应式

测量范围

010mm

020mm

表示分解率

1μm0999μm

0.01mm:110mm

1μm0999μm

0.01mm:15mm

0.1mm:520mm

测量精度

(平滑面)

03mm±5μm+显示值的3%

3.01mm:显示值的±3%

探测部

1点定压接触式

V形口套头

φ18×47mm

1点定压接触式

V形口套头

φ35×59mm

选择产品

附属品

标准校正片、试验用零校正板(铁用)

测量对象

·钢等磁性金属底材的比较厚的涂层用

·钢等磁性金属底材上的厚涂层用

探测头要根据需要购买。

SWT-7000Ⅲ系列的非铁材金属用探测头NFe

型号

NFe-2.0/NFe-2.0L

NFe-06

NFe-8

测量方式

涡电流式

测量范围

02.00mm

0600μm

08mm

表示分解率

1μm0999μm

切换

0.1μm0400μm

0.5μm400500μm

0.01mm:1.002.00mm

1μm0600μm

切换

0.1μm0400μm

0.5μm400500μm

1μm0999μm

0.01mm18mm

测量精度

(平滑表面)

0100μm:±1μm

又或者时显示值的

±2%以内

101μm2.00mm

±2%以内

0100μm:±1μm

又或者时显示值的

±2%以内

101μm600μm

±2%以内

0100μm:±1μm

±±1μm+显示值的±2%

101μm8mm

±2%以内

探测部

1点定压接触式

V形口套头

2.0φ13×47mm

2.0L18×23×67mm

1点定压接触式

V形口套头

φ11×48mm

1点定压接触式

V形口套头

φ35×61mm

选择产品

V形套头/-

附属品

标准校正片、试验用零校正板(非铁用)

测量对象

铝、铜等非磁性金属底材

上的绝缘性皮膜等一般普

通测量物用。

铝、铜等非磁性金属底

材上的绝缘性皮膜等

细小的圆棒、细管、小

物件等的高安定性用。

铝、铜等非磁性金属

底材上的绝缘性皮膜等

比较厚的测量物用。

探测头要根据需要购买。


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