SANKO三高 X射线荧光测厚仪 EX-851

SANKO三高 X射线荧光测厚仪 EX-851

X射线荧光测厚仪，EX-851，配备自动对焦，实现更平滑的测量

特色
测量单元显示器显示及被测物体镀层粘附分布的可视化显示
Windows软件的采用增强®了报表创建功能
注意：使用该证书时，您需要通知相关劳动标准检查办公室。
X射线源
油浸式小型微聚焦X射线管
目标：钨
管 电压：50kV/管，电流可变
照射方法
上述垂直辐照方法
探测器
比例计数管
可测量范围
原子序数 22~24： 0.02 ~ 约 20 微米 原子
序数 25 ~ 40： 0.02 ~ 约 30 微米 原子
序数 41 ~ 51： 0.02 ~ 约 70 微米 原子
序数 52 ~ 83： 0.01 ~ 约 10 微米
样本观察
CCD彩色相机（自动对焦）
表格大小
200×200
被测物体的*高度
90毫米
车体尺寸
740（W）×530（D）×660（H）