北崎供应ACCRETECH東京精密ZEISS O-INSPECT多传感器测量机
北崎供应ACCRETECH東京精密ZEISS O-INSPECT多传感器测量机
将接触式测量技术和光学测量技术集成在一个单元中的多传感器测量机
接触式高精度扫描传感器 VAST XXT 和非接触式高精度相机传感器 Discovery。 V12 是标准设备。 此外，使用 ZEISS DotScan 白光距离传感器可以对三维微观结构进行非接触式测量。 这是一款一体化测量机，将蔡司工业测量机部门成熟的测量技术与显微镜部门*的光学技术相结合。
用于使用蔡司镜头 Discovery.V12 测量情绪的远心变焦镜头
标准 Discovery.V12 能够对各种材料制成的工件进行高精度图像测量。 可切换的 10 级变焦镜头，获得可重现的结果。 它还可以用作大放大倍率的远心镜头，提供的尺寸测量，而不受与物体的距离无关。
所有放大倍率均具有长工作距离
所有放大倍率下的工作距离均为 87 mm。 它确保与被测物体保持安全距离，可用于台阶较深的测量点。
可设置自动照明*
用于*对比度的自动照明设置可检测*边缘。 通过保存获得的照明设置并将其用于第二次和后续测量，可以抑制由于照明设置差异而导致的变化，并获得均匀的测量结果。
*需要 CALYPSO2016 或更高版本
即使在光亮的表面上也能实现均匀的边缘识别
环形灯配有菲涅尔透镜盖，以减少测量过程中照明的不均匀反射。 即使测量点位于光滑的表面上，也可以清楚地识别边缘。
接触式扫描探头 VAST XXT
接触式扫描探头 VAST XXT 是标准设备。
可以进行高精度扫描测量。
图像传感器难以测量的深孔、工件侧面和斜孔，也可以使用 VAST XXT 进行测量。 由于它具有扫描测量功能，因此不仅可以准确捕获单点测量值，还可以准确捕获几何形状。
保证宽精度温度范围
接触式测量可确保在 18 °C ~ 30 °C 的宽温度范围内保持准确性。
蔡司 DotScan 白光测距传感器，用于非接触式和高速测量各种工件（可选）
蔡司 DotScan 是一种基于共聚焦原理的白光距离传感器。 它可以对各种工件进行非接触式测量，例如三维微观结构、玻璃和镜片等透明部件、使用接触方法进行测量时会变形的软部件以及抛光后的光泽表面。 传感器可以从三个不同的测量范围 （10 / 3 / 1 mm） 中进行选择，以后可以添加具有不同测量范围的传感器。
可以测量透明部件的厚度和玻璃表面后面底层地面的形状。
可以从测量数据中检测到多个峰值，以测量透明工件的表面轮廓和薄膜厚度。
非常适合测量精细形状和边缘（无需半径校正）
光斑直径小至 φ8 μm（测量范围 1 mm 规格），可准确测量微观组织和微小边缘的形状。
无需喷涂即可对镜面工件进行高精度非接触式测量
即使是光泽度强的工件，如镜面，也可以在不喷涂的情况下进行测量。
以非接触方式和高速测量平面工件的平面度
为了避免影响工件表面，通常通过点测量来评估工件，而使用 ZEISS DotScan 进行非接触式和快速扫描可以显著减少工件。
新增功能！ ZVp（蔡司 VAST 探测）显著缩短了测量时间
接触式蔡司 VAST 探测模式可实现高速单点探测，并根据测量任务和要测量的单点数量显著缩短测量时间。 此外，光学蔡司 VAST 探测模式提高了成像对准速度，并有助于显著缩短测量时间。
用于 4 轴扫描的*转台（仅 543/863 选项）
通过使用可选的旋转工作台，在 O-INSPECT 的 X、Y、Z 三个轴上增加了一个程序控制的旋转轴，从而大大提高了测量效率。
可以水平和垂直安装
通过将转台水平放置（转台水平放置），可以从工件的所有方向进行测量，无论是接触式还是非接触式。 此外，当转台垂直放置时（工作台面朝上放置），可以使用接触式传感器对齿轮和圆柱形工件进行高精度扫描。
