OTSUKA大塚电子 nanoSAQLA 粒径测量系统 

OTSUKA大塚电子 nanoSAQLA 粒径测量系统 

• 一台即可轻松实现5个样品的连续测定
  实现了在没有自动进样器的情况下难以完成的多样品连续测定
  还可针对每个样品更改测定条件
• 从稀薄到浓稠的适配
• 标准测定时间1分钟的高速测定
  从浓稠样品到稀薄样品，自动调整*测量位置，实现约1分钟的高速测定
• 配备简易测量功能（一键即可开始测量）
  无需任何复杂操作，软件简洁易懂
• 内置非浸入式样品池，无需分注即可实现无污染
  各样品池相互独立，无交叉污染之忧
• 配备温度梯度功能
  温度设置也十分便捷

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