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产品列表PRODUCTS
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SANKO山高SWT-7100III膜厚计
SWT系列探头可互换。
◆ 两用型 : FN-325
◆ 铁材用 : Fe 系列
◆ 非铁材 : NFe 系列
电磁式/涡电流式膜厚计
SWT-7000Ⅲ/7100Ⅲ 探头可互换。简易测量。
可根据用途来选择探头。
轻巧简便。
在LCD画面上显示操作的顺序指引。
4个按键，操作简单。
可连接电脑进行数据的传送。（7100Ⅲ）
用 途
涂层/衬层/镀金
耐酸层等绝缘性皮膜
规 格
测量范围 连接探头不同而不同（另卖）
显示方式 LCD画面
检量线校正 2点校正式
检量线存储 铁·非铁各一根
数据传送 USB（7100Ⅲ）
电 源 单3电池（1.5V）×2
电源线（7100Ⅲ）
附带自动关机功能
使用温度 0～40C°(不结露)
尺寸重量 72（W）×30（H）×156（D）mm
约210g
附 属 品 收纳袋
7100Ⅲ：电源线
USB连接线、USB软件
探 头 根据测量金属底材来选择。
·铁底材用（Fe）
·非铁底材用（NFe）
·铁底材·非铁底材两用（FN-325）
(请参照探头页)
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探测头型号 |
FN-325 |
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测量方式 |
电磁式·涡电流式两用（铁·非铁底材自动识别） |
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测量范围 |
铁底材：0～3.00mm、非铁底材：0～2.50mm |
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表示分辨率 |
1μm：0～999μm的切换（铁·非铁共通） 0.1μm：0～400μm（铁·非铁共通） 0.5μm：400～500μm（铁·非铁共通） 0.01mm:1.00～3.00mm（铁底材） 0.01mm:1.00～2.50mm（非铁底材） |
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测量精度 （平滑表面） |
0～100μm：:1μm（铁·非铁共通） 或者是指示值的±2%以内 101μm～3.00mm:±2%以内（铁底材） 101μm～2.50mm:±2%以内（非铁底材） |
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探测部 |
1点定压接触式、V形切口、φ13×52mm、72g |
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选择产品 |
V形探测头套有3种（φ5以下用、φ5～10用、φ10～20用） |
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附属品 |
标准校正板、试验用零校正板、（铁用·非铁用） |
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测量对象 |
铁底材：铁·钢等磁性金属底材上的皮膜、衬层、喷涂膜、 电镀（电解镍除外）等 非铁底材：铝、铜等非磁性金属底材上的绝缘皮膜等 一般较普遍的测量物用 |
SWT-7000Ⅲ系列机型
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机型 |
SWT-7000Ⅲ |
SWT-7100Ⅲ |
SWT-7200Ⅲ |
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测量范围 |
连接的探测头不同测量范围也不同。 |
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显示方式 |
液晶显示LCD（数据·提示信息）、背光灯 |
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检量线校正 |
2点校正方式（零校正、标准校正） |
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检量线存储 |
铁、非铁各1根 |
10根 |
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测量值存储 |
— |
20,000点 |
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数据传送 |
— |
USB |
USB |
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统计功能 |
— |
— |
内藏 |
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附加功能 |
背光灯 测量模式的切换（普通／连续） 检量线、校正值的删除 自动关机功能（约3分以上不操作时，机器会自动关机） 分辨率的切换 上下限值的设定（SWT-7200Ⅲ） |
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电源 |
单3电池 ×2 |
单3电池 ×2 电源线 |
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使用温度 |
0～40C°（不结露） |
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机体尺寸·重量 |
72（W）×30（H）×156（D）mm、 重量 210g |
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附属品 |
干电池、收纳袋子 |
干电池、收纳袋子、电源线、USB线、USB软件（CD） |
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追加产品 |
铁材金属用探测头（Fe）、非铁材金属用探测头（NFe） 铁·非铁材用探测头（FN-325） |
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SWT-7000Ⅲ系列的铁材金属用探测头（1）（Fe）
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型号 |
Fe-2.5/2.5L |
Fe-2.5LwA |
Fe-0.6Pem |
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测量方式 |
电磁感应式 |
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测量范围 |
0～2.50mm |
0～600μm |
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表示分解率 |
1μm：0～999μm 切换 0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm 0.01mm:1.00～2.50mm |
1μm：0～600μm 切换 0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm
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测量精度 （平滑面） |
0～100μm:±1μm 又或者时显示值的±2%以内 101μm～2.50mm：±2% |
0～100μm:±1μm 又或者时显示值的±2%以内 101μm～600μm：±2% |
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探测部 |
1点定压接触式 V形口套头 2.5：φ13×48mm 2.5L:18×23×67mm |
1点定压接触式 测量部：约20×57mm 全长：约550～ 1.550mm （伸缩式） |
1点定压接触式 Φ5.6×94mm |
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选择产品 |
V形套头/— （φ5以下用、φ5～10用、φ10～20用） |
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附属品 |
标准校正片 试验用零校正板 （铁用） |
标准校正片 试验用零校正板（铁用） 收纳袋子 |
标准校正片 试验用零校正板 （铁用） |
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测量对象 |
铁·钢等的磁性金属底材上的皮膜、衬层、喷涂层、电镀层（电解镍的电镀层除外）等等 |
铁·钢等的磁性金属底材是哪个的皮膜、衬层等等手不能进去、高的地方、有距离的地方的涂层厚度的测量。 |
铁·钢等磁性金属底材上的涂层、衬层等狭小的地方、小的部位的涂层的膜厚测量。 |
SWT-7000Ⅲ系列的铁材金属用探测头（2）（Fe）
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型号 |
Fe-10 |
Fe-20 |
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测量方式 |
电磁感应式 |
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测量范围 |
0～10mm |
0～20mm |
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表示分解率 |
1μm：0～999μm 0.01mm:1～10mm
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1μm：0～999μm 0.01mm:1～5mm 0.1mm:5～20mm |
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测量精度 （平滑面） |
0～3mm：±（5μm＋显示值的3%） 3.01mm：显示值的±3% |
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探测部 |
1点定压接触式 V形口套头 φ18×47mm |
1点定压接触式 V形口套头 φ35×59mm |
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选择产品 |
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— |
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附属品 |
标准校正片、试验用零校正板（铁用） |
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测量对象 |
铁·钢等磁性金属底材的比较厚的涂层用 |
铁·钢等磁性金属底材上的厚涂层用 |
探测头要根据需要购买。
SWT-7000Ⅲ系列的非铁材金属用探测头（NFe）
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型号 |
NFe-2.0/NFe-2.0L |
NFe-06 |
NFe-8 |
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测量方式 |
涡电流式 |
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测量范围 |
0～2.00mm |
0～600μm |
0～8mm |
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表示分解率 |
1μm：0～999μm 切换 0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm 0.01mm:1.00～2.00mm |
1μm：0～600μm 切换 0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm
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1μm：0～999μm 0.01mm：1～8mm |
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测量精度 （平滑表面） |
0～100μm:±1μm 又或者时显示值的 ±2%以内 101μm～2.00mm： ±2%以内 |
0～100μm:±1μm 又或者时显示值的 ±2%以内 101μm～600μm： ±2%以内 |
0～100μm:±1μm ±（±1μm＋显示值的±2%） 101μm～8mm： ±2%以内 |
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探测部 |
1点定压接触式 V形口套头 2.0：φ13×47mm 2.0L：18×23×67mm |
1点定压接触式 V形口套头 φ11×48mm
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1点定压接触式 V形口套头 φ35×61mm
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选择产品 |
V形套头/- |
－ |
－ |
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附属品 |
标准校正片、试验用零校正板（非铁用） |
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测量对象 |
铝、铜等非磁性金属底材 上的绝缘性皮膜等一般普 通测量物用。 |
铝、铜等非磁性金属底 材上的绝缘性皮膜等 细小的圆棒、细管、小 物件等的高安定性用。 |
铝、铜等非磁性金属 底材上的绝缘性皮膜等 比较厚的测量物用。 |
探测头要根据需要购买。
